O infravermelho de ondas curtas (SWIR) é uma lente óptica especialmente projetada para capturar luz infravermelha de ondas curtas, que não é diretamente perceptível ao olho humano. Essa faixa é comumente designada como luz com comprimentos de onda que variam de 0,9 a 1,7 mícron. O princípio de funcionamento da lente infravermelha de ondas curtas depende das propriedades de transmissão do material para um comprimento de onda específico da luz e, com o auxílio de materiais ópticos especializados e tecnologia de revestimento, a lente pode conduzir com eficiência a luz infravermelha de ondas curtas, suprimindo a luz visível e outros comprimentos de onda indesejáveis.
Suas principais características incluem:
1. Alta transmitância e seletividade espectral:As lentes SWIR empregam materiais ópticos especializados e tecnologia de revestimento para atingir alta transmitância dentro da banda infravermelha de ondas curtas (0,9 a 1,7 mícrons) e possuem seletividade espectral, facilitando a identificação e a condução de comprimentos de onda específicos de luz infravermelha e a inibição de outros comprimentos de onda de luz.
2. Resistência à corrosão química e estabilidade térmica:O material e o revestimento da lente demonstram excelente estabilidade química e térmica e podem sustentar o desempenho óptico sob flutuações extremas de temperatura e diversas circunstâncias ambientais.
3. Alta resolução e baixa distorção:As lentes SWIR apresentam atributos ópticos de alta resolução, baixa distorção e resposta rápida, atendendo aos requisitos de imagens de alta definição.
Lentes infravermelhas de ondas curtas são amplamente utilizadas na área de inspeção industrial. Por exemplo, no processo de fabricação de semicondutores, as lentes SWIR podem detectar falhas dentro de wafers de silício que são difíceis de detectar sob luz visível. A tecnologia de imagem infravermelha de ondas curtas pode aumentar a precisão e a eficiência da inspeção de wafers, reduzindo assim os custos de fabricação e aprimorando a qualidade do produto.
Lentes infravermelhas de onda curta desempenham um papel vital na inspeção de wafers semicondutores. Como a luz infravermelha de onda curta pode permear o silício, essa característica permite que as lentes infravermelhas de onda curta detectem defeitos em wafers de silício. Por exemplo, o wafer pode apresentar fissuras devido a tensões residuais durante o processo de produção, e essas fissuras, se não forem detectadas, influenciarão diretamente o rendimento e o custo de fabricação do chip IC finalizado. Com o uso de lentes infravermelhas de onda curta, esses defeitos podem ser efetivamente identificados, promovendo assim a eficiência da produção e a qualidade do produto.
Em aplicações práticas, lentes infravermelhas de ondas curtas podem fornecer imagens de alto contraste, tornando até mesmo defeitos minúsculos visivelmente visíveis. A aplicação dessa tecnologia de detecção não apenas aumenta a precisão da detecção, como também reduz o custo e o tempo da detecção manual. De acordo com o relatório de pesquisa de mercado, a demanda por lentes infravermelhas de ondas curtas no mercado de detecção de semicondutores está aumentando ano a ano e deve manter uma trajetória de crescimento estável nos próximos anos.
Horário da publicação: 18/11/2024